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使用沉降法测定多孔材料的粒径分布
麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司 2015-08-14 点击1767次
麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司 2015-08-14 点击1767次
使用沉降法分析颗粒粒度分布是基于Stokes 定律来进行的。样品颗粒在
液体中会以一定的速率进行沉降运动,而沉降的速率与颗粒粒径是息息相关
的。因此,我们通过测定已知性质的液体中样品颗粒的重力沉降速率,即可
确定样品颗粒的粒度分布。但是对于多孔材料,使用Stokes 定律进行分析时,
颗粒的粒度分布是其骨架密度的函数,因此,为了精确的测量多孔材料的粒
度分布就必须考虑颗粒的骨架密度。本文中使用美国麦克仪器公司的X 光沉
降粒度仪分别对Si-Al 和氢氧化铝粉末的粒度进行了测定。实验结果证明,对
于Si-Al(多孔材料),使用不同的密度进行测试(密度和骨架密度),测得的
粒度分布结果将存在极大的差别;而对于氢氧化铝粉末,煅烧会使其产生孔
结构,使用正确的骨架密度进行测试,产生孔结构前后颗粒的粒度分布结果
才能对应上,否则也将存在差异。