对粒度分析来说，没有一种测试技术能够满足所有材料的应用需求，选择正确的测试方法是获得可靠数据的关键，美国麦克仪器公司提供多种测定颗粒数量以及粒度分布的仪器，对应不同的测试方法，满足不同的应用。

纳米粒度与Zeta电位解决方案-Nanoplus纳米粒度与Zeta电位仪

NanoPlus是独特的利用光子相关光谱法和电泳光散射技术测量粒度、Zeta电位和分子量的仪器。该仪器结构紧凑、易于使用、分析范围广、带有交互式软件和多个样品池，满足不同用户的应用。

·         三种型号可选：纳米粒度仪、Zeta电位仪，纳米粒度与Zeta电位仪

·         测量悬浮液样品粒度范围：0.1nm~12.3μm，浓度范围0.00001%~40%

·         测量悬浮液样品Zeta电位范围：无范围限制，浓度范围：0.001%~40%

·         可配备自动滴定仪以及多种样品池

费氏粒径解决方案-SAS全自动费氏粒径测试仪

麦克仪器SAS全自动费氏粒径测试仪，是由费氏95粒径仪（FSSS）发展和升级而来，空气渗透技术是公认的粉体样品比表面积（SSA）测试技术。使用该技术测定的SSA数据已经在多个行业广泛使用，例如：药物、金属涂料、颜料和地质等行业

·         粒径范围：0.2-75μm

·         设计生产费氏粒度数据，保证数据一致性

·         安装方便，实时数据显示

电阻法颗粒技术解决方案- ElzoneⅡ颗粒计数与粒度分析仪

ElzoneⅡ颗粒计数与粒度分析仪采用电阻法这种有效的颗粒粒度表征技术，适用于同时分析具有不同光学性质、密度、颜色和形状的颗粒样品可迅速、精确地检测精细颗粒材料的尺寸、数目、浓度以及质量。ElzoneⅡ被广泛应用于工业、生物、地质等粒度大于0.4μm的颗粒，具有极高的准确度和分辨率，操作非常简便。

·         测量范围：0.4到266μm，有机或者无机材料

·         可使用不同的导电液，不需要输入液体性质参数

·         无需事先获得材料性质参数（密度、折射率等）

·         全自动操作：启动、运行、关闭、检测并清除障碍物、冲洗和校准

·         CCD照相机可实时视频显示光圈

X光沉降粒度解决方案-SediGraph IIX光沉降粒度分析仪

结合成熟的SediGraph分析技术， SediGraph III通过对X-射线的吸收测量可以直接检测分离固体颗粒物的质量浓度，无需模型，仪器有很好的重复性、精确性和重现性。