麦克仪器公司（Micromeritics ）是全球领先的用于表征颗粒、粉末和多孔材料的高性能仪器生产商，该公司重点介绍了其全自动Micromeritics TriStar II Plus 3030三站式比表面和孔隙度分析仪。Micromeritics TriStar II Plus 3030利用高级非局部密度泛函理论(NLDFT)模型，使用户能够结合从氮气和二氧化碳等温线收集的信息，在存在分子尺寸的孔隙的材料(如碳缝孔)上提供完整的孔径分布。与标准氮气分析相比，该方法的孔径分析范围扩大到低至0.35nm 的微孔分析。使用CO2提供了进入超微孔的途径，这些超微孔在低温下由于动力学大小限制、连接性问题或扩散极慢而不能被N2接触到。

作为三站式气体吸附仪，TriStar II Plus 3030确保快速而全面的材料分析能力，从而实现快速而高效的质量控制分析。此外，该分析仪还具有满足研究要求的准确度、分辨率和数据处理能力。Micromeritics公司总裁兼首席执行官Terry Kelly表示：“TriStar II Plus 3030是一款久负盛名的比表面积和孔隙率分析仪，受到学术界和工业市场的高度赞赏，因为它为我们的客户提供了从添加剂制造、电池和燃料电池到催化剂、纳米管或制药等广泛应用的最大灵活性，多种分析和数据整理突显了我们对结构特性提供卓越的分析能力的持续承诺。”

The TriStar II Plus可以使用氮气、氩气、二氧化碳和其他例如丁烷、甲烷等非腐蚀性气体。对于很难表征的包括原料药、辅料、研磨剂和其他低表面积(<1m2/g)的应用，氪选项可提高这些材料的测量精度。Micromeritics MicroActive数据处理和控制软件提供了一个简单易用的界面，可以快速将数据转换为精确的表面积和孔隙率信息。